Nový spektrometer [Quark]

Skutočnú vedu nemožno robiť bez kvalitného prístrojového vybavenia, dnes ide o náročné, drahé zariadenia. Tieto úvodné slová prof. Pavla Šajgalíka z Ústavu anorganickej chémie SAV si zobrali k srdcu aj tri ústavy SAV (Ústav anorganickej chémie, Ústav polymérov a Chemický ústav SAV) a Fakulta chemickej a potravinárskej technológie STU. Spojenými silami odštartovali projekt Centrum excelentnosti MACHINA (Centrum pre materiály, vrstvy a systémy pre aplikácie a chemické prostriedky v extrémnych podmienkach), ktorého súčasťou je aj vybudovanie prístrojovej základne. Cieľom realizácie projektu je výrazné posilnenie konkurencieschopnosti materiálového výskumu v Bratislavskom kraji a na Slovensku. Kľúčovú úlohu pritom zohrá nový prístroj K-Alpha, ktorý využíva technológiu röntgenovej fotoelektrónovej spektroskopie (XPS). Ide o jednu z najkomplexnejších techník na charakterizáciu chemického zloženia povrchov materiálov. Pri XPS metóde v analyzačnej komore vzorku vo forme prášku alebo filmu pri ultravysokom vákuu bombardujú röntgenové lúče fotónov. Následne sa zaznamenáva a meria rýchlosť vyrazených elektrónov z vrchných vrstiev analyzovaného materiálu. Analýza tenkých vrstiev a viacvrstvových štruktúr je kľúčová pri vývoji nových súčiastok a polovodičov v mikroelektronike. Informácia o presnom zložení povrchov je užitočná pri skúmaní korózie kovov aj v ďalších technologických oblastiach, ako je katalýza a metalurgia. Poznatky a informácie sa využívajú pri vývoji nových materiálov pre letecký či jadrový priemysel, ale aj pri skúmaní únavy materiálov, pri vývoji nových kompozitných materiálov, v nanotechnológiách pri modifikácii nanočastíc, v textilnom priemysle, pri výrobe skla a keramiky, lepení a iných procesoch. Projekt má kumulovať vedecké aj prístrojové kapacity týchto inštitúcií do jedného centra, a preto vznikla aj jeho vedecká rada, v ktorej sú zastúpené významné vedecké osobnosti, ako aj osobitná priemyselná rada, ktorá by mala stimulovať aplikácie výsledkov.